书籍名称：面向集成电路电阻电容提取的高级场求解器技术 英文
页数：246
作者：喻文健，（美）王习仁著
出版时间：2014
ISBN：9787302351511
出版社：北京：清华大学出版社
简介：电阻、电容（ＲＣ）提取是设计纳米制造工艺集成电路的重要步骤，通过它对集成电路中的互连线或衬底耦合效应进行电学建模，为进一步的电路性能验证、制造良率分析提供基础。用于ＲＣ提取的场求解器方法直接对电场进行求解，因此具有最高的准确度。为了满足集成电路设计中准确建模与仿真的要求，场求解器ＲＣ提取方法正变得越来越重要。本书对刻画超大规模集成电路互连线和混合信号集成电路衬底耦合效应的关键场求解器提取方法进行了全面、系统的介绍。通过来自实际电路设计的例子，对各种场求解器算法进行了详细阐述，并说明它们各自的优点和缺点。本书适合于电子工程和计算机工程相关专业的研究生和学者阅读，也可为工作在集成电路设计、设计自动化领域的技术人员提供参考。
前部分目录
1 Introduction——1
1.1 The Need for Parasitic Extraction——1
1.2 The Methods for RC Extraction and Field Solver——2
1.3 Book Outline——4
1.4 Summary——6
2 Basic Field-Solver Techniques for RC Extraction——7
2.1 Problem Formulation——7
2.2 Overview of the Numerical Methods——10
2.3 Indirect Boundary Element Method——11
2.4 Direct Boundary Element Method——14
2.5 Floating Random Walk Method——16
2.6 Summary——18
3 Fast Boundary Element Methods for Capacitance Extraction(Ⅰ)——19
3.1 Basics of Indirect Boundary Element Methods——19
3.2 Fast Multipole Methods——20
3.2.1 Introduction——20
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